Apreo ChemiSEM 系统集成 SEM 成像和化学表征增强的自动化，以简化工作流程延长离子源寿命和可排程的升级查看产品 下载数据表

Helios 6 HD FIB-SEM大容量 TEM 样本制备大幅度提高系统利用率失效分析和计量查看产品 下载数据表

Meridian EX 系统新型电子束探查与光学相比，分辨率提高10倍

<5 nm 淋巴结缺损定位查看产品 下载数据表

Hydra Bio 血浆-FIB具有 4 种可转换离子组分的体积 EM，适用于冷冻或树脂包埋样品 使用旋转减薄生物法进行高 z 轴精度的毫米级切片 使用旋转减薄生物法进行高 z 轴精度的毫米级切片查看产品 下载数据表

Glacios 2 Cryo-TEM高分辨率结构确定工具（<3Å)借助 AI 增强的自动化能力，实现出色的易用性灵活的标准操作模式：SPA、断层扫描、MicroED查看产品 下载数据表

Metrios 6 (S)TEM完整自动化半导体计量工作流程无需配方的 (S)TEM 计量自动化高效化学分析查看产品 下载数据表

FIB-SEM 和激光烧灼所有三个光束都具有相同的重合点，以实现准确且可重复的切割位置毫米级的材料截面切割，去除速度比传统的 FIB 最多高 15,000 倍统计学相关的深度亚表面和 3D 数据分析查看产品 下载数据表

Iliad (S)TEMEELS 和 (S)TEM 光学组件的进阶集成静电光束阻断器高能量分辨率电子源查看产品 下载数据表

冷冻透射电镜Krios Rx Cryo-TEM业界领先的生产效率和易用性SPA 专用固定 300 kV 电压用于确保可靠性的药物专用服务包查看产品 下载数据表

100 kV冷冻透射电镜Tundra Cryo-TEM生物学相关分辨率下的结构信息空间利用率高且经济划算轻松的迭代样品优化用于精简数据收集的独特 AI 算法查看产品 下载数据表

300 kV冷冻透射电镜Krios G4 Cryo-TEM改进的人体工程学可更轻松放进新建或现有的实验室极大提高生产率和自动化水平用于高分辨率 3D 重构的最佳成像质量查看产品 下载数据表

透射电镜Spectra Ultra TEM适用于大多数电子束敏感材料的新成像和光谱分析功能利用 Ultra-X 进行 EDX 检测的飞跃色谱柱旨在保持样品完整性查看产品 下载数据表

300 kV透射电镜Spectra 300 TEM获得原子水平的最高分辨率结构和化学信息30-300 kV 的灵活高张力范围三个透镜冷凝器系统查看产品 下载数据表

200 kV透射电镜Spectra 200 TEM用于 30-200 kV 加速电压的高分辨率和对比度成像宽间隙极片设计为 5.4 mm 的对称 S-TWIN/X-TWIN 物镜60 kV-200 kV 范围的亚埃 STEM 成像分辨率查看产品 下载数据表

200 kV冷冻透射电镜Glacios 冷冻 TEM可变的加速电压 80-200 kV 用于冷冻样品操作的行业领先的自动加载器占地面积小增强易用性：查看产品 下载数据表

半导体计量透射电镜Metrios AX TEM支持质量、一致性、计量以及减少 OPEX 的自动化选项充分利用机器学习实现出色的自动功能和特征识别适用于原位和非原位两种薄片制备的工作流程查看产品 下载数据表

120 kV透射电镜Talos L120C TEM更高稳定性4k × 4K Ceta CMOS 相机25 – 650 k 倍 TEM 放大范围灵活的 EDS 分析可提供化学信息查看产品 下载数据表

200 kV场发射透射电镜Talos F200i TEM高质量、高分辨率的 (S)TEM 成像和灵活的 EDS可使用高分辨率、高亮度（冷）场发射枪可提供双 EDS，以获得较高的分析通量查看产品 下载数据表

最干净的能谱透射电镜Talos F200S TEM精确的化学成分数据为动态显微镜检查提供高性能的成像和精准的成分分析配有 Velox 软件、可实现快速、轻松的获取和分析多模态数据查看产品 下载数据表

最深入的材料分析透射电镜Talos F200X TEM高质量、高分辨率的 (S)TEM 成像和精确的 EDS可提供高分辨率、高亮度（冷）场发射枪可提供具有极佳清洁度的柱内 Super-X G2 EDS查看产品 下载数据表

高称度冷冻透射电镜Talos F200C TEM灵活的 EDS 分析可提供化学信息高对比度、高质量 TEM 和 STEM 成像Ceta 16 Mixel CMOS 相机提供了宽视野和高读取速度查看产品 下载数据表

ExSolve WTP DualBeam 可以在完整晶片上制备直径高达 300 mm 的位点特异性 20 nm 厚薄片满足需要在先进技术节点上进行自动化高通量采样的需求查看产品 下载数据表

Helios 5 EXL DualBeam可实现高样品制备质量的低电压性能超高分辨率油浸透镜场致发射 SEM 色谱柱使用 EFEM 自动处理 300 mm FOUP（符合 GEM300 标准）查看产品 下载数据表

Helios 5 DualBeam全自动、高质量、超薄 TEM 样品制备高通量、高分辨率的亚表面和 3D 表征快速纳米原型设计能力查看产品 下载数据表

Helios 5 PFIB DualBeam无镓 STEM 和 TEM 样品制备多模式亚表面和 3D 信息新一代 2.5 μA 氙气电浆 FIB 色谱柱查看产品 下载数据表

Helios 5 激光 PFIB 系统快速、毫米级交叉截面

统计学相关的深度亚表面和 3D 数据分析共享 Helios 5 PFIB 平台的所有功能查看产品 下载数据表

Helios Hydra DualBeam4 个快速切换离子种类（Xe、Ar、O、N），用于对种类最丰富的材料进行优化 PFIB 处理Ga-free TEM 样品制备极高分辨率 SEM 成像查看产品 下载数据表

Aquilos 2 Cryo-FIB可自动生成多个薄片利用提取纳米操纵器锁定并提取感兴趣的结构用于高分辨率断层扫描的 3D 可视化查看产品 下载数据表

Scios 2 DualBeam完全支持磁性及不导电样品高通量亚表面和 3D 表征先进的易用性和自动化功能查看产品 下载数据表

多功能实时能谱扫描电镜Axia ChemiSEM真正的实时定量元素分析低真空模式具有和高真空模式相同的分辨力，荷电样品轻松应对标配二次电子、电动伸缩背散射电子和能谱探头标配全彩导航相机和红外CCD相机查看产品 下载数据表

多功能实时能谱扫描电镜Axia ChemiSEM真正的实时定量元素分析低真空模式具有和高真空模式相同的分辨力，荷电样品轻松应对标配二次电子、电动伸缩背散射电子和能谱探头标配全彩导航相机和红外CCD相机查看产品 下载数据表

超高分辨场发射扫描电镜Verios 5 XHR SEM带有单色器的电子枪，无论高低电压均可轻松实现亚纳米级分辨率电子束着陆能量低至20 eV，对电子束敏感材料的表征非常友好标配压电陶瓷样品台，实现优良的精确度和稳定性查看产品 下载数据表

环境场发射扫描电镜Quattro ESEM具有独特环境能力的高分辨场发射扫描电镜可观察各种类型样品，并可在所有工作模式下都可实现SE和BSE同时成像可实现潮湿状态样品的扫描透射（STEM）观察查看产品 下载数据表

环境扫描电镜PRISMA E SEM具有独特环境能力的钨灯丝扫描电镜简单且快速的样品装载能力并可对多个样品进行导航大样品仓，适用多种类型的样品查看产品 下载数据表

多功能高分辨场发射扫描电镜Apreo 2 SEM具备优异性能的SEM，适用于纳米及亚纳米级别的空间分辨率应用纳秒级的T1闪烁体探测器，获取卓越的背散射电子衬度图像大工作距离（10mm)下具备出色的空间分辨率查看产品 下载数据表

三维成像场发射扫描电镜VolumeScope 2 SEM各向分辨率相同的大体积3D数据高真空与低真空模式下均能获取良好的衬度和高空间分辨率在常规SEM模式和连续切片成像之间轻松切换查看产品 下载数据表

Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM 1 至 20 kV 加速电压范围的 FEG 源<2.0 nm (SE) 和 3.0 nm (BSE) 分辨率（20 kV 时）可选的完全集成 EDS 和 SE 检测器

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Phenom XL G2 Desktop SEM适用于大样品 (100x100 mm) 并是自动化的理想选择<10 nm 分辨率和高达 200,000 倍的放大率；4.8 kV 至 20 kV 加速电压可选的完全集成的 EDS 和 BSE 检测器查看产品 下载数据表

Phenom ProX G6 Desktop SEM 集成 EDS 检测器的高性能桌面 SEM分辨率 <6 nm (SE) 和 <8 nm (BSE)；放大率高达 350,000 倍可选 SE 检测器查看产品 下载数据表

Phenom Pro G6 Desktop SEM高性能桌面 SEM分辨率 <6 nm (SE) 和 <8 nm (BSE)；放大率高达 350,000 倍可选 SE 检测器查看产品 下载数据表

Phenom Pure G6 Desktop SEM入门级桌面 SEM分辨率 <15 nm；放大率高达 175,000 倍耐用的 CeB6 放射源查看产品 下载数据表

Phenom 认知 GSR 台式扫描电镜 专用的自动化 GSR 桌面 SEM分辨率 <10 nm；放大率高达 200,000 倍耐用的 CeB6 放射源查看产品 下载数据表

Phenom 微粒 X AM 台式扫描电镜 多用途桌面 SEM 、同时使用自动化软件进行添加剂制造分辨率 <10 nm；放大率高达 200,000 倍可选 SE 检测器查看产品 下载数据表

Phenom 微粒 X TC 台式扫描电镜 功能多样的桌面 SEM ，带有自动化软件，可用于技术清洁分辨率 <10 nm；放大率高达 200,000 倍可选 SE 检测器查看产品 下载数据表

Phenom ParticleX Steel Desktop SEM 集成 SEM 和 EDS易于使用亚微米级夹杂物查看产品 下载数据表

ELITE 系统完全无损快速识别装配板上有缺陷的组件以进行准确的处置以千分尺准确度定位 x-y 缺陷，深度位置准确度高达 20 µm查看产品 下载数据表

Hyperion II 系统原子力探测定位晶体管故障集成式 PicoCurrent (CAFM)查看产品 下载数据表

nProber IV 系统定位晶体管和 BEOL 故障热纳米探测（-40°C 至 150°C）半自动操作查看产品 下载数据表

Meridian S 系统使用主动探针技术的故障诊断静态激光刺激 (SLS/OBIRCH) 和光子发射选项支持微探测和探针卡设备两种刺激查看产品 下载数据表

Meridian WS-DP 系统使用宽频 DBX 或 InGaAs 相机系统实现高灵敏度、低噪音的低电压光子发射检测用于扫描链分析、频率映射、晶体管探测和故障隔离的多波长激光扫描显微镜查看产品 下载数据表

Meridian 7 系统适用于 10nm 及以下节点的动态光学故障隔离高分辨率可见光和红外光可大范围提供精确到 5μm 的高成品率样品制备查看产品了解更多

Meridian IV 系统高灵敏度扩展波长 DBX 光子发射检测标准 InGaAs 光子发射检测具有多种波长选项的激光扫描显微镜查看产品了解更多

Centrios 电路编辑系统卓越的图像/减薄分辨率增强的减薄精度和控制基于 Thermo Scientific Helios DualBeam 平台构建查看产品 下载数据表

Centrios HX 电路编辑系统采用较新 FIB 技术的高级半导体节点先进电路编辑无以伦比的铣削精度和控制以及低着陆能量，以保护敏感电路出色的导航和离子束放置准确度查看产品 下载数据表

MK.4TE ESD 和闩锁测试系统基于快速继电器的操作—多达 2304 个通道通过 6 个独立的矢量激励电平实现高级设备预处理完全符合标准的闩锁激发源和器件偏压查看产品 下载数据表

Orion3 静电放电测试仪带电器件模型测试双高分辨率彩色相机低至小于 0.4mm 节距的测试密度查看产品 下载数据表

Celestron 测试系统硅片和封装级 TLP 测试高电流 TLP 脉冲发生器可与半自动探针台连接直观的控制和报告生成软件查看产品 下载数据表

Pegasus ESD 测试系统按照最新行业标准进行测试真正的系统级 ESD 150pF/330Ω 网络通过晶圆探针与任何装置进行 2 引脚连接查看产品 下载数据表

Nexsa微焦点 X 射线源独特的多技术选项用于单原子和簇离子深度剖析的双模式离子源查看产品 下载数据表

K-阿尔法高分辨率 XPS快速、高效、自动化的工作流程用于深度剖析的离子源查看产品 手册下载

ESCALAB QXi XPS高光谱分辨率多技术表面分析丰富的样品制备和扩展选项查看产品 手册下载

Vitrobot 系统全自动样品玻璃化滤纸夹吸装置半自动化载网转移高样品通量查看产品 下载数据表

Amira 软件支持多数据/视图/通道交互式高质量可视化基于机器学习的分割直观的方法创建查看产品 下载数据表

Athena 软件确保图像、数据、元数据和实验工作流程的可追溯性简化您的成像工作流程促进协作保护和管理数据访问查看产品 手册下载

Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜与光学显微镜术关联以及在透射电镜中重新定位厚度一致的高质量薄片

自动化高通量样品制备和冷冻断层扫描连接性查看产品 下载数据表

Phenom ParticleX Battery Desktop SEM 通用的解决方案，可用于高质量的内部分析自动化系统和多份样本分析检测速度快 10 倍查看产品 下载数据表

CleanMill 系统宽离子束研磨和抛光加速电压范围宽低温样本制备CleanConnect compatible查看产品 下载数据表

Auto Slice & View 5 软件DualBeam 自动连续切片多模式数据采集（SEM、EDS、EBSD）实时编辑功能基于边缘的剪切放置查看产品 下载数据表

AutoScript 4 软件更高的重现性和回收率无人值守的高通量成像和模式支持 Python 3.5 脚本环境查看产品 下载数据表

AutoScript TEM 软件在研究需求与显微镜自动化之间提供直接联系提高重现性和准确度将时间集中在显微镜上以实现更高通量查看产品 下载数据表

AutoTEM 5 软件全自动原位 S/TEM 样品制备支持上下、平面和翻转几何结构高度可配置的工作流程易于使用、直观的用户界面查看产品 下载数据表

Avizo 软件支持多数据/多视图、多通道、时间序列、超大数据先进的多模式 2D/3D 自动配准伪影消除算法查看产品 手册下载

智能 EPU 软件用于单颗粒采集的显微镜内嵌式解决方案针对高通量颗粒采集进行了优化，提供实时图像分析包括排程、数据采集和决策算法组件查看产品 下载数据表

嵌入式 CryoSPARC Live针对样本质量和仪器设置，可提供实时、多面向的反馈根据实时信息调整成像和处理可与 Smart EPU 软件完全集成查看产品了解更多

EPU 2 软件用于单颗粒采集的显微镜内嵌式解决方案适用于高通量颗粒收集兼容胶片、CCD 相机和直接电子相机查看产品 下载数据表

iFast 软件可加快配方创建速度的宏记录器可实现无人值守夜间操作的运行器对齐工具：图像识别和边缘查找查看产品了解更多

Inspect 3D 软件用于交叉关联的图像处理工具和过滤器用于图像对齐的特征跟踪用于迭代投影比较的代数重建技术查看产品 了解更多 ›

Maps 软件大面积采集高分辨率图像轻松发现感兴趣区自动化图像采集过程查看产品 下载数据表

NEXS 软件NEXS 与电路编辑系统之间可自动同步位置/放大倍数以实现更无缝的用户体验连接到大多数用于 EFA、PFA 和电路编辑空间的 Thermo Scientific 工具查看产品 下载数据表

Pergeos 软件岩石和矿物质可视化、处理和分析岩石图像数据从孔隙到岩心执行多尺度成像分析计算地质和岩石物理性质查看产品 查看资源

Tomography 5 软件自动化多位点批量断层扫描自动盒式映射可达到最佳电子剂量的剂量对称倾斜方案与 Selectris 成像过滤器完全集成查看产品 下载数据表

Velox 软件处理窗口左侧的实验面板。活细胞定量分析交互式检测器布局界面，用于可重现的实验控制和设置查看产品 下载数据表

3D 重构直观的用户界面、可最大限度提高用户使用能力直观的全自动用户界面基于 " 阴影形状 " 技术、无需阶段倾斜查看产品 下载数据表

EDS 绘图快速可靠的样品或所选线中元素分布信息容易导出和报告结果

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纤维公制通过自动测量节省时间快速、自动收集所有统计数据以无与伦比的准确度查看和测量微纤维和纳米纤维查看产品 下载数据表

NanoBuilder基于 CAD 的原型设计全自动作业执行、阶段导航、减薄和沉积自动对准和漂移控制查看产品 下载数据表

颗粒度量集成软件可用于在线和离线分析将颗粒特征相关联、比如直径、圆度、长径比和会议度使用自动图像映射创建图像数据集查看产品 下载数据表

Phenom 编程接口定制您的 SEM 以满足您的工作流程利用自动化流程提高效率、节省时间控制成像设置和阶段导航查看产品 下载数据表

公制端口根据孔隙特征相关联、如面积、长径比、主要和次要轴直接从桌面 SEM 采集图像使用高质量图像的统计数据查看产品 下载数据表

ProSuite自动采集图像实时远程控制标准应用包括：自动图像映射 + 远程用户界面查看产品 下载数据表

石英 PCI/CFR符合 21 CFR 第 11 部分要求的 SEM 成像可追溯性与 Phenom XL 和 Phenom Pro 台式 SEM 兼容支持 Windows 10 64 位操作系统查看产品 下载数据表

μHeater用于原位高分辨率成像的超快速加热解决方案全集成：温度最高可达 1200 °C查看产品 下载数据表

μPolisher有可能实现大量新的、未经探索的应用非常低的能量减薄小光斑尺寸、适用于精确的局部表面处理查看产品 下载数据表

Selectris 和 Selectris X 成像过滤器专用于高稳定性和原子分辨率成像操作简便与最新一代 Thermo Scientific Falcon 4 直接电子检测器配对使用查看产品 下载数据表

Ceta D 相机在任何高电压 (20–300 kV) 下均具有极佳性能兼容镜筒后过滤器和光谱仪用于动态研究的视频采集查看产品 下载数据表

Falcon 4i 检测器高吞吐量，每小时可获得更多图像无与伦比的成像质量和高 DQE使用 EER 进行无损数据压缩查看产品 下载数据表

电荷减少样品支架放大倍数高达 8 倍更快的样品制备非导电样品可以在自然状态下成像查看产品 下载数据表

电式给料机样品架将电极连接至样品、以便于原位测量可在 0–25 mm 范围手动调节样品高度探头电流测量查看产品 下载数据表

Eucentric样品支架在桌面 SEM 上进行共焦倾斜和同轴旋转快速成像，上样 < 1 分钟即可完成实时 3D 样品可视化模块查看产品 下载数据表

过滤器插件过滤残留分析和石棉分析提供支持 47 mm（1.85 英寸）和 25 mm（1 英寸）过滤器的两种型号用于 Phenom 台式扫描电镜查看产品 下载数据表

Metallurgical样品支架旨在支持树脂安装样品 用于冶金和与刀片配合使用时的首选解决方案样品尺寸最大至 32 mm 直径和 30 mm 高度查看产品 下载数据表

微工具样品支架快速夹紧可倾斜和旋转、便于定位样品样品加载无需额外工具查看产品 下载数据表

电动倾斜&旋转样品杆翻转角度 -10° 至 +45°连续 360° 压实旋转由专用运动控制 ProSuite 应用程序控制查看产品 下载数据表

内布罗微粒分散剂干粉均匀分散的标准方法避免粒子簇配合 Phenom 台式扫描电镜使用查看产品 下载数据表

树脂安装插件独特的样品持有人概念提供适用于支持 25 mm（约 1 英寸）、32 mm （约 1 ¼ 英寸）和 40 mm（约 1 ½ 英寸）直径的标准尺寸样品的 3 种型号查看产品 下载数据表

Standard 样品支架可分析样品量多达 100 mm x 100 mm 的紧凑型样品台可以使用 3 种树脂或冶金安装插件进行扩展配合 Phenom 台式扫描电镜使用查看产品了解更多 ›

样品架插件更快速的涂层和多层样品的交叉成像无需螺钉或额外工具即可轻松夹紧无需螺钉和工具即可夹紧样品查看产品 下载数据表

Tensile 样品支架确定批次质量确定生产一致性帮助设计流程查看产品 下载数据表

温控样品架温度范围 -25 °C 至 +50 °C控温准确度： ±1.5 °C温度显示分辨率为 0.1 °C查看产品 下载数据表